Udstyr til registrering af stikdefekter

Fuwei Connector Defect Detection Equipment er lavet af førende eksperter i Kina og anvender den nyeste teknologi til omhyggeligt at opdage og identificere defekter, hvilket garanterer de højeste niveauer af produktkvalitet og ydeevne. Som både producent og leverandør er vi forpligtet til at levere overlegne produkter, der opfylder strenge industristandarder. Vores konkurrencedygtige priser sikrer tilgængelighed uden at gå på kompromis med kvaliteten, hvilket gør dette udstyr til et uvurderligt aktiv for virksomheder, der søger præcision og effektivitet i forbindelsesfremstillingsprocesser. Med Fuwei Connector Defect Detection Equipment kan kunderne forvente uovertruffen pålidelighed, nøjagtighed og værdi, hvilket giver dem mulighed for at opretholde enestående produktkvalitet og samtidig optimere produktionseffektiviteten.

Detektionsgenstande

Pin-afstand, GAP-værdi, positionsnøjagtighed, TIP-eksponering, knælende PIN-kode, ødelagt PIN-kode, deformation, ridser, klæbemiddel, fremmedlegemer, ridser, overløb osv.

Vanskelighed

Det er svært at præsentere defekter i lysfotografering med en bred vifte af defekttyper, varierende former og størrelser og varierende forekomstområder, hvilket resulterer i høj kompleksitet

Resultat

Nøjagtig detektering af forskellige konnektordefekter med en mistet detektionsrate på mindre end 0,1 %

Detekterbare produkter

Optisk billeddannelse

Som svar på de forskellige typer, former og størrelser af stikdefekter har vi udviklet vores eget optiske billeddannelsessystem til at løse billeddannelsesproblemer for forskellige typer stik.

Introduktion til billedkarakteristika

Lyskildekombination, multipositionsbilleddannelse

Kombiner forskellige lyskilder for at få billeder under forskellige lyskilder, fusioner billeder gennem algoritmer for at reducere billeddannelse af blinde vinkler

Én scanning, flersidet output

Understøtte tidsdelingseksponering til billedoptagelse, output flere komplette billeder, der skal inspiceres i én scanning
En enkelt scanning kan få billeder belyst fra flere vinkler, såsom lyst felt, mørkt felt, baggrundsbelysning osv. Multivinkelbelysning forbedrer defektdetektionshastigheden betydeligt